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苏州晶格电子有限公司吴江分公司
Suzhou Lattice Electronics Co., LTD. Wujiang Branch
材料电阻率、方块电阻测量相关国标、行标制定主要参与者
产品中心: 粉末电阻率测试仪 四探针测试仪 燃料电池双极板碳纸电阻测试系统… 全钒流电池双极板炭毡电阻测试系…

产品名称:苏州晶格ST2258C带通讯协议四探针电阻率测试仪ito膜导电涂层方阻测试仪

苏州晶格ST2258C四探针测试仪,是带通讯协议四探针电阻率测试仪,带通讯协议四探针方阻测试仪 可配套第三方软件开发,实现个性化定制要求同时可测各种导电薄膜、导电涂层的电阻率、方阻。

咨询热线:400-635-7098
产品详情

1.基本功能和依据标准:

   ST2258C型多功能数字式四探针测试仪是运用四探针测量原理测试材料电阻率/方块电阻的多用途、智能化综合测量仪器。该仪器设计符合GB/T 1551-2009 《硅单晶电阻率测定方法》、GB/T 1551-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流两探针法》、GB/T 1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》等并参考美国 A.S.T.M 标准。 

2.仪器成套组成:由ST2258C四探针主机、选配的四探针探头、选配四探针测试台等部分组成。

3.优势特征:

3.1:本测试仪特增设测试结果自动分类功能,最大分类10类。

3.2:可定制 USB通讯接口,便于其拓展为集成化测试系统中的测试模块。

3.3:8档位超宽量程,行业领先。 同行一般为五到六档位。

3.4: 仪器小型化、手动/自动一体化。

3.5: 仪器操作简便、性能稳定,所有参数设定、功能转换全部采用数字化键盘输入,简便而且免除模拟定位器的不稳定。

4探头选配:根据不同材料特性需要,探头可有多款选配。详情见《四探针探头型号规格特征选型参照表》

4.1.配高耐磨的碳化钨探针探头,如ST2253-F01型,以测试硅等半导体、金属、导电塑料类等硬质材料的电阻率/方阻;

4.2.配不伤膜的球形或平头镀金铜合金探针探头,如ST2558B-F01型,可测金属箔、碳纸等导电薄膜,也可测陶瓷、玻璃或PE膜等基底上导电涂层膜,如金属镀膜、喷涂膜、ITO膜、电容卷积膜等材料的薄膜涂层电阻率/方阻。

4.3.配专用箔上涂层探头,如ST2558B-F02型,也可测试锂电池电池极片等箔上涂层电阻率/方阻。

4.4.换上四端子测试夹具,还可对电阻器的体电阻进行测量。

四探针法测试固体或薄膜材料选配SZT-A型或SZT-B型(电动)或SZT-C型(快速恒压)或SZT-F型(太阳能电池片)测试台。

二探针法测试细长棒类材料选配SZT-K型测试台.

平行四刀法测试橡塑材料选配SZT-G型测试台。

    4.5适用范围:仪器适用于半导体材料厂器件厂、科研单位、高等院校四探针法对导体、半导体、类半导体材料的导电性能的测试。

2.基本技术参数

2.1. 测量范围、分辨率(括号内为可向下拓展1个数量级)

电    阻:10.0×10-6 ~ 200.0×103  Ω,    分辨率1.0×10-6 ~ 0.1×103Ω

         (1.0×10-6 ~ 20.00×103  Ω,    分辨率0.1×10-6 ~ 0.01×103 Ω)

电 阻 率:10.0×10-6 ~ 200.0×103 Ω-cm   分辨率1.0×10-6 ~ 0.1×103  Ω-cm

         (1.0×10-6 ~ 20.00×103 Ω-cm  分辨率0.1×10-6 ~ 0.01×103 Ω-cm)

方块电阻:50.0×10-6 ~ 900.0×103 Ω/□    分辨率5.0×10-6 ~ 0.5×103  Ω/□

         (5.0×10-6 ~ 100.0×103 Ω/□  分辨率0.5×10-6 ~ 0.1×103  Ω/□)

2.2. 材料尺寸(由选配测试台和测试方式决定)

直    径: SZT-B/C/F方测试台直接测试方式180mm×180mm,手持方式不限

长(高)度:  测试台直接测试方式 H≤100mm,    手持方式不限.

测量方位:  轴向、径向均可



技术参数

1. 测量范围、分辨率(括号内为拓展量程,可定制)

电 阻:10.0×10-6 ~ 200.0×103 Ω,    分辨率1.0×10-6 ~ 0.1×103 Ω

(1.0×10-6 ~ 20.00×103 Ω,    分辨率0.1×10-6 ~ 0.01×103 Ω)

电 阻 率:10.0×10-6 ~ 200.0×103 Ω-cm   分辨率1.0×10-6 ~ 0.1×103 Ω-cm

(1.0×10-6 ~ 20.00×103 Ω-cm  分辨率0.1×10-6 ~ 0.01×103 Ω-cm)

方块电阻:50.0×10-6 ~ 1.0×106 Ω/□    分辨率5.0×10-6 ~ 0.5×103 Ω/□

(5.0×10-6 ~ 100.0×103 Ω/□  分辨率0.5×10-6 ~ 0.1×103 Ω/□)

2. 材料尺寸(由选配测试台和测试方式决定)

直 径: SZT-A圆测试台直接测试方式 Φ15~130mm,手持方式不限

SZT-B/C/F方测试台直接测试方式180mm×180mm,手持方式不限.

长(高)度:  测试台直接测试方式 H≤100mm, 手持方式不限.

3. 量程划分及误差等级

4. 数字电压表:

⑴量程: 20.00mV

⑵误差:±0.2%FSB±2LSB

⑶最大分辨力:1.0µV

显示: 4位数字显示,小数点自动显示

5. 数控恒流源

⑴电流输出:直流电流0.1µA~1.0A,系统自动调整。

⑵误差:±0.2%FSB±2LSB

6. 四探针测试探头:

有选配的型号确定,详见《不同半导体材料电阻率/方阻测试的四探针探头和测试台选配方法》

7. 电源:

功 耗:< 15W,输入:220V±10% 50Hz±2%

8. 本仪器工作条件为:

温 度: 0-40℃

相对湿度: ≥60%

工作室内应无强电磁场干扰,不与高频设备共用电源。








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