高阻碳化硅粉末电阻率测试有妙招，苏州晶格双机联用方案获客户认可
——国标起草单位实力护航，ST2742B与ST2643组合破解高阻材料测试难题
近日，苏州国合新材料的技术人员带着高阻碳化硅粉末样品来到苏州晶格电子有限公司，希望借助我们的粉末电阻率测试仪，完成一次高阻碳化硅粉末电阻率测试——他们想了解这种材料在不同压力下的电阻率值变化情况。
碳化硅粉末是第三代半导体产业的关键基础材料，高阻碳化硅在功率器件、射频器件等领域应用广泛，其电阻率的精准测试对材料研发和质量控制至关重要。但问题在于，高阻碳化硅粉末的电阻率往往达到兆欧级甚至更高，常规粉末电阻率测试仪的测量范围根本“够不着”。
接待这次测样的是技术工程师王工。他听完客户诉求后，给出了一个专业方案：要完成这次高阻碳化硅粉末电阻率测试，单台仪器搞不定，需要两台设备配合使用——ST2742B型300公斤压力粉末电阻率测试仪，加上ST2643超高阻微电流测试仪。
王工向客户详细解释道：ST2742B单独使用的话，测量范围是10μΩ·cm到200kΩ·cm，主要适用于常规粉末材料的电阻率测试。但ST2742B的优势在于它可以作为一个高精度的加压平台——自动阶梯式加压、同步记录粉体厚度。配上ST2643高阻仪之后，测量上限可以直接拉到10的14次方Ω·cm。两台仪器搭配使用，基本上所有粉末电阻率测试需求都能覆盖。
ST2742B全自动粉末电阻率测试仪 ST2643超高阻微电流测试仪
实际测试中，王工的操作流程很清晰：将高阻碳化硅粉末装入ST2742B的粉末加料器中，仪器自动施加设定压力并实时记录粉体厚度值；与此同时，ST2643高阻仪负责读取电阻率数据，由王工手动记录。ST2742B充当的是“加压+测厚”的角色，而ST2643负责“测阻”的任务，各司其职，配合默契。
测试结果出来，客户对仪器测出的碳化硅粉末电阻率值相当满意，完全符合他们的预期。
值得一提的是，苏州晶格电子有限公司是国家标准GB/T 40007-2021《纳米技术 纳米材料电阻率的接触式测量方法 通则》的起草单位之一。该标准由中国科学院山西煤炭化学研究所主持制定，于2021年5月正式发布，是行业内首个纳米材料电阻率测试的通则性国家标准。苏州晶格能够与中科院煤化所、国家纳米科学中心、中国计量科学研究院等国家级科研机构一同位列起草单位名单，本身就是对公司在材料导电性能检测领域技术实力的权威认可。
如果您也有高阻碳化硅粉末电阻率测试、碳化硅粉末电阻率测试或其他粉末电阻率测试方面的需求，欢迎随时联系我们。
